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表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

更新時間:2024-10-06

產(chǎn)品型號:SM-112LW

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:日本

產(chǎn)品報價:

產(chǎn)品特點:SM-112LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂
型號:SM-112LW
測量范圍:0?10mm
最小刻度:0.01mm
測頭:上、下均為3.2mm球形測頭
主要用于測量鏡片凹凸處的最大厚度

詳細資料

SM-112LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

型號:SM-112LW

測量范圍:0?10mm

最小刻度:0.01mm

測頭:上、下均為3.2mm球形測頭

主要用于測量鏡片凹凸處的最大厚度



表盤式厚度表 測頭:


型號

小刻度
mm

測量范圍
mm

精度
um

平面度
um

表盤刻度

測量力

上測頭

下測頭

SM-112

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112LS

0.01

10

±15

0-50-100

2.5N以下

φ 3.2 Ball

φ 10 Flat

SM-112LW

0.01

10

±15

0-50-100

2.5N以下

φ 3.2 Ball

φ 3.2 Ball

SM-112-3A

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 5 Flat

φ 5 Flat

SM-112-80g

0.01

10

±15

5

0-50-100

停止點測量力0.8N±0.05

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112P

0.01

10

±15

5

0-0.5-1

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112FE

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112AT

0.01

10

±15

8

0-50-100

0.8N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112D

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

表盤式厚度表  型號:

SM-112、SM-112LS、SM-112LW、SM-112-3A、SM-112-80g、SM-112P、SM-112FE、SM-112AT、SM-112D


表盤式厚度表  別名:

表盤式厚度計、手握式厚度表、厚薄表、測厚計


表盤式厚度表  產(chǎn)品說明:

小刻度有0.01和0.001兩種。

測量厚度可達50mm

部分量表采用陶瓷測頭,與工作接觸面為陶瓷,可延長使用壽命。另外,還有FE(材質(zhì)為加硬SK4)和AT(材質(zhì)為特殊鍍層)可供選擇。

根據(jù)測頭的形狀不同,可分為標準型和其它型,

標準型的測量力不超過2.5N,同時也可選用低測量力0.4N

SM-112LW 金屬圓測頭,測頭尺寸¢3.2mm,用于測量金屬片及不規(guī)則產(chǎn)品

表盤式厚度表  用途:

應用廣泛,可測量紙張、頭發(fā)、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。

SM-112LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

表盤式厚度表  實物照片:




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